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Bundesgesetz über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographiengesetz, ToG)
vom 9. Oktober 1992 (Stand am 1. Januar 2017)
Art. 16Öffentlichkeit des Registers
Jede Person kann gegen Gebühr in das Register und die Anmeldungsunterlagen Einsicht nehmen und über den Inhalt der Dokumente Auskünfte einholen.