Verordnung
über den Schutz von Topographien
von Halbleitererzeugnissen
(Topographienverordnung, ToV)

¹ Zu den Ak­ten ge­ge­be­ne Be­wei­sur­kun­den, die ein Fa­bri­ka­ti­ons- oder Ge­schäfts­ge­heim­nis of­fen­ba­ren, wer­den auf An­trag aus­ge­son­dert.

² Un­ter­la­gen, die nach Ar­ti­kel 5 zur Iden­ti­fi­zie­rung die­nen, dür­fen nicht in ih­rer Ge­samt­heit aus­ge­son­dert wer­den.

³ Auf aus­ge­son­der­te Ur­kun­den wird im Ak­ten­heft hin­ge­wie­sen.

⁴ Über die Ein­sicht in aus­ge­son­der­te Ur­kun­den ent­schei­det das IGE nach An­hö­rung der an der To­po­gra­phie Be­rech­tig­ten, die im Re­gis­ter ein­ge­tra­gen sind.